一、簡單介紹
1.測(cè)試電壓：50V~5000V
2.測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
3.測(cè)試電阻（阻抗）顯示*大讀數(shù)15TΩ，顯示*小讀數(shù)10KΩ
4.短路電流：5mA
5.實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
6.美國Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀S1-554/2的詳細(xì)介紹
7.美國Megger （AVO） S1-554/2 5KV絕緣電阻測(cè)試儀（高壓兆歐表）
（替代S1-5001、S1-5005）
二、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.全新的S1-554/2絕緣電阻是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測(cè)試和維護(hù)高壓設(shè)備的*佳儀器。
2.S1-554/2絕緣電阻具有雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來進(jìn)行測(cè)試。
3.數(shù)字/模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果
4.測(cè)試電壓由 50V至5KV可調(diào)
測(cè)試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1KV-5V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。
5.絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍15TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。
6.短路電流：5mA
7.抗干擾：4mA rms
8.絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測(cè)試程序，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試，提供全部分析結(jié)果：
9.絕緣電阻測(cè)試儀外殼由硬塑聚炳烯制造，由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理，因此特別堅(jiān)固耐用，而且輕巧便于攜帶，符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。
10.全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。
11.絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息：絕緣阻值，實(shí)時(shí)測(cè)試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí)，每次測(cè)試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間，這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。
12.絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器，還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。
13.儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其精準(zhǔn)性。
14.儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。
15.儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。
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三、
1.內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序：
IR 絕緣電阻測(cè)試、
DAR 吸收比測(cè)試 （介電吸收率）、
PI 極化指數(shù)測(cè)試、
SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試
DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電））
2.絕緣電阻*大測(cè)試范圍15TΩ,
3.提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù)
4.儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果:電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD
四、技術(shù)指標(biāo)：
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電源
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95-240V，50/60 Hz 60VA
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電池使用時(shí)間
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在5KV 狀態(tài)下，可進(jìn)行6小時(shí)連續(xù)測(cè)試
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測(cè)試電壓（DC）
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50~1KV到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓
1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓
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精度
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± 5% 1TΩ
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（23°C）
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± 20% 10TΩ
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短路電流/
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5mA
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充電時(shí)間
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在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF
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電容放電時(shí)間
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放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF
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電容測(cè)量
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10nF 到 50μF（取決于測(cè)量電壓）
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電容測(cè)量精度
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± 5% ± 5nF
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（23°C）
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電壓輸出精度
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基本測(cè)試電壓的 +4% @ 1GΩ
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（0°C-30°C）
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±25V非標(biāo)測(cè)試電壓（<500V）
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測(cè)試電流范圍
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0.01mA to 5mA
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測(cè)量電流精度
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±5% ±0.2 mA
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（23°C）
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抗干擾
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4mA rms @ 200 V
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顯示
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3位數(shù)字/模擬顯示
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計(jì)時(shí)器量程
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99分鐘59秒
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導(dǎo)線
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3條（3米）測(cè)試導(dǎo)線，帶絕緣夾頭
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內(nèi)存容量
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32KB
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其它測(cè)試性能
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IR，PI，DAR，DD，SV
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實(shí)時(shí)輸出
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能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
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傳輸接口
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RS232 和 USB
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
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電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD
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工作溫度
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-10°C-+50°C
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儲(chǔ)存溫度
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-25℃- +65℃
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濕度
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90% RH非凝固@40℃
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保護(hù)等級(jí)
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IP65
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**標(biāo)準(zhǔn)
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符合EN61010- 1：2001 CATIII 300V
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EMC
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符合EN61326-1：1998
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外形尺寸
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305mm ×194 mm ×360 mm
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重量
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7．1公斤
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產(chǎn)品持有證書
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CE
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五、絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋
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（PI）
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極化指數(shù)測(cè)試
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極化指數(shù)：在同一次試驗(yàn)中，10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。
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（DAR）
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感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測(cè)試
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吸收比：在同一次試驗(yàn)中，60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。
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（SV）
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步進(jìn)電壓測(cè)試
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（DD）
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介質(zhì)放電（誘電體放電）
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1.絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系
2.當(dāng)說吸收比時(shí)，應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。
3.絕緣電阻：在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對(duì)電極的泄漏電流值之比。R=U/I，常用單位：（MΩ）兆歐
六、5KV系列絕緣電阻測(cè)試儀選型及功能對(duì)照表
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產(chǎn)品型號(hào)
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MIT510/2
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MIT520/2
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S1-552/2
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S1-554/2
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絕緣電壓測(cè)試范圍
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50~5,000V（可步進(jìn)調(diào)節(jié)）
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250V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）
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500V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）
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1,000V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）
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2,500V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）
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5,000V（額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)）
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▲
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絕緣測(cè)試
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絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（*大顯示數(shù)字讀數(shù)）
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15 T Ω
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15 T Ω
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15 T Ω
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15 T Ω
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絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（*小顯示數(shù)字讀數(shù)）
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10 k Ω
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10 k Ω
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10 k Ω
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10 k Ω
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絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（*大顯示模擬讀數(shù)）
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1 T Ω
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1 T Ω
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1 T Ω
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1 T Ω
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絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（*小顯示模擬讀數(shù)）
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100 k Ω
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100 k Ω
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100 k Ω
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100 k Ω
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功能
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*大輸出電流
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5mA
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5mA
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5mA
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5mA
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短路電流
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3mA
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3mA
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5mA
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5mA
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抗干擾抑制
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2mA
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2mA
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2mA
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4mA
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自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試
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自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻
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DAR吸收比測(cè)試（介電吸收率）
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PI 極化指數(shù)測(cè)試
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SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試
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DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）測(cè)量
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內(nèi)置定時(shí)器器
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內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器
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RS232 USB 通訊接口
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顯示
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數(shù)字和模擬雙重顯示
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顯示測(cè)試電壓
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顯示試品充電時(shí)間
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顯示充電電流
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顯示時(shí)間
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產(chǎn)品功能：